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  • 佳能推出晶圓測量機(jī)新品MS-001 可進(jìn)行多像素測量

    原標(biāo)題:佳能推出晶圓測量機(jī)新品 MS-001:比光刻機(jī)精度更高,可提高生產(chǎn)效率

    2 月 21 日消息,在邏輯、存儲器、CMOS 傳感器等尖端半導(dǎo)體領(lǐng)域,制造工藝日趨復(fù)雜,半導(dǎo)體元器件制造廠商為了制造出高精度的半導(dǎo)體元器件,需要提高套刻的精度,因而曝光前要測量的對準(zhǔn)測量點(diǎn)也越來越多。

    如果在半導(dǎo)體光刻機(jī)中對數(shù)量眾多的測量點(diǎn)進(jìn)行對準(zhǔn)測量的話,測量本身會(huì)非常耗時(shí),進(jìn)而就會(huì)降低半導(dǎo)體光刻機(jī)的生產(chǎn)效率。為此,半導(dǎo)體制造領(lǐng)域引進(jìn)了晶圓測量機(jī),將半導(dǎo)體光刻機(jī)的對準(zhǔn)測量功能分離出來,以此來確保生產(chǎn)的高精度和效率。

    2 月 21 日,佳能推出了半導(dǎo)體制造用晶圓測量機(jī)“MS-001”,該產(chǎn)品可以對晶片進(jìn)行高精度的對準(zhǔn)測量。

    ▲ MS-001

    據(jù)介紹,“MS-001”所搭載的調(diào)準(zhǔn)用示波器安裝有區(qū)域傳感器,可以進(jìn)行多像素測量,降低測量時(shí)的噪音。另外,“MS-001”還可以對多個(gè)種類的對準(zhǔn)標(biāo)記進(jìn)行測量。

    通過采用新開發(fā)的調(diào)準(zhǔn)用示波器光源,新產(chǎn)品可提供的波長范圍比在半導(dǎo)體光刻設(shè)備中測量時(shí)大 1.5 倍,能夠以用戶所需的任意波長進(jìn)行對準(zhǔn)測量。因此,相較于在半導(dǎo)體光刻設(shè)備中所進(jìn)行的測量,“MS-001”所能實(shí)現(xiàn)的對準(zhǔn)測量精度要更高。

    佳能表示,隨著新產(chǎn)品的應(yīng)用,可以在晶片運(yùn)送至半導(dǎo)體光刻設(shè)備之前統(tǒng)一完成大部分的對準(zhǔn)測量,減輕在半導(dǎo)體光刻設(shè)備中進(jìn)行對準(zhǔn)測量操作的工作量,從而提高半導(dǎo)體光刻設(shè)備的生產(chǎn)效率。

    來源:IT之家

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